日立FlexSEM 1000扫描电子显微镜
- 产品简介
- 产品性能参数
- 适用范围
- 服务网点
- 紧凑型设计,分辨率为4 nm*1
- 通过高灵敏度二次电子探测器,背散射探测器,低真空探测器(UVD*2),实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
- 操作简捷,即使新手也能拍出高质量的图片
- 新开发的导航功能「SEM MAP」,便于快速锁定视野
- 大窗口(30 mm2)SDD能谱系统,便于快速分析元素成分*2
*2选配
项目 | 内容 | |
---|---|---|
分解能*3 |
4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) |
|
加速电压 | 0.3 kV ~ 20 kV | |
放大倍率 |
6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (显示倍率) |
|
低真空模式 | 真空范围:6 ~ 100 Pa | |
电子枪 | 预对中钨灯丝 | |
样品台 |
3-轴自动马达台 X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° |
|
max样品尺寸 | 直径80 mm | |
max样品高度 | 40 mm | |
尺寸 |
主机:450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供电单元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm |
|
探测器选配 |
|
更多详细资料可来电咨询,服务热线:400-600-6053!