Talos F200X 材料科学应用

速度200 kV FEG STEM，实现多维度化学分析

FEI Talos F200X 扫描/透射电子显微镜融合了高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能与能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X 可在所有维度 (1D-4D) 下实现快速、精确的 EDS 分析，支持快速导航的动态显微镜 HRTEM 成像。与此同时，FEI Talos F200X 还提供高的稳定性和长正常运行时间。

 STEM 成像分辨率和通量

FEI Talos F200X STEM 可以实现快速、准确且量化的多维纳米材料表征。FEI Talos F200X 的创新功能可提高通量、精度与易用性，适于学院、政府和工业研究环境中的研究与分析。

配件

NanoEx-i/v TEM 夹持器

FEI 的全新样品加热和偏置夹持器将扩展您的显微镜的功能。对于各种应用领域内需要原位 加热纳米材料的精密实验（例如对纳米量退火行为、金属相变、催化剂纳米系统的结构改变与烧结现象、淬火、偏析/扩散现象等的研究），

更多详细资料可来电咨询，服务热线：400-600-6053！

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