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安捷特--XRF镀层测厚仪AXIOM系列

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪能提供:

分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,

    

ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点:

ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的样品舱。


ACZET系列镀层测厚仪的优势

l 操作简单,只需要很少的培训就可以操作

l 检测速度快,无损检测只需几秒钟

l 可测试单层及多层镀层的厚度

l 可以测试电镀液中金属离子含量



l 对测试样品完全无损  

自动化批量检测:可选配XYZ全自动工作台

l 应用行业广泛:电子,珠宝,金属加工等等





操作软件 

l µ-Master用于镀层厚度测量

l Element-Master 用于材料分析

l Report-Master 用于生成报告文件

l Data-Master 用于数据库管理

l %-Master 用于材料分析(珠宝)

l Liquid-Master 用于电镀液分析


可选配置

l 自动的多准直器系统

l 软件控制XYZ轴实现自动化批量检测




更多详细资料可来电咨询,服务热线:400-600-6053!

适用于:|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|