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安捷特--XRF镀层测厚仪 CUBE系列

一、功能

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

2. 镀层层数:多至5层。

3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。

4. 测量时间:通常35秒-180秒。

5. 样品max尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

6. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

7. 可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。

8. 同时定量测量8个元素。

9. 定性鉴定材料达20个元素。

自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。



二、特点

1. 采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。

2. X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。

3. 具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试

4. 相比其他分析设备,投入成本低

5. 仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性



技术参数

Item

项目

Part & Ref Number

部件号

Commodity &Description

货物及描述

1

Cube X射线镀层测厚仪

· X射线光管  微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高电压 50千伏(1.2毫安)可根据软件控制优化

· 探测器  高分辨气体正比计数探测器

· 准直器  单一固定准直器直径0.3mm

· 样品仓  330 x 200 x 170 mm

· 样品台  手动Z轴样品台

· 电源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 仪器尺寸  350 x 420 x 310 mm

· 仪器重量  27Kg

· Windows 10操作系统和计算机主机

· 19寸液晶显示器