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安捷特--XRF镀层测厚仪 STARK系列

一、功能:

1、采用X射线荧光光谱法:无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

2、镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

3、可测量厚度范围:Ti钛—U铀

4、镀层层数:多至5层。

5、测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。

6、测量时间:通常60秒-180秒。

7、样品max尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

8、测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

9、可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。

10、同时定量测量8个元素。

11、定性鉴定材料达20个元素。

STARK系列参数

MODEL

STARK

X射线光管

微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸约 0.2-0.8 mm ,

高压管

50千伏(1.2毫安、60W瓦)可根据软件控制优化

探测器

高分辨正比气体计数器

准直器

单一固定准直器直径0.3毫米或0.5毫米

摄像头

20倍放大自动对焦高清CCD彩色摄像头

样品仓

330 X 200 X 170 mm(W X D X H)

样品台

固定平台

电源

230 VAC, 50—60 Hz,120W/100W

仪器尺寸

350 X 450 X 310 mm(W X D X H)

仪器重量

32KG

更多详细资料可来电咨询,服务热线:400-600-6053!