首页 > 产品中心 > 安捷特--XRF镀层测厚仪 STARK系列
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一、功能：
1、采用X射线荧光光谱法：无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
3、可测量厚度范围：Ti钛—U铀
4、镀层层数：多至5层。
5、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。
6、测量时间：通常60秒-180秒。
7、样品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。
8、测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
9、可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。
10、同时定量测量8个元素。
11、定性鉴定材料达20个元素。
STARK系列参数
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MODEL |
STARK |
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X射线光管 |
微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸约 0.2-0.8 mm ， |
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高压管 |
50千伏（1.2毫安、60W瓦）可根据软件控制优化 |
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探测器 |
高分辨正比气体计数器 |
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准直器 |
单一固定准直器直径0.3毫米或0.5毫米 |
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摄像头 |
20倍放大自动对焦高清CCD彩色摄像头 |
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样品仓 |
330 X 200 X 170 mm(W X D X H) |
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样品台 |
固定平台 |
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电源 |
230 VAC， 50—60 Hz,120W/100W |
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仪器尺寸 |
350 X 450 X 310 mm(W X D X H) |
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仪器重量 |
32KG |
