首页 > 产品中心 > 德国入门级Fischer X射线荧光测量仪器XUL 210德国入门级Fischer X射线荧光测量仪器XUL 210
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FISCHERSCOPE@X-RAYXUL
--耐用的入门级X射线荧光测量仪器，用于无损材料分析和涂层厚度测量:
FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM是一款适合电镀厂测量镀层厚度的便宜耐用的仪器。它配备了一个固定的准直器和滤片，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1 mm以上的应用。低能射线元件激发效率较低;但是对于标准的测量典型电镀层厚度的应用，如Cr、Ni、Cu,没有任何问题。
对于FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计(C型槽)可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法完全放入测量室。
特征:
口带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。 *高工作条件:50KV,50W
口X射线探测器采用比例接收器
口准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05mm到直径00.3mm
口基本滤片:固定或3个自动切换
口测量距离可在0-27.5mm范围内调整
口固定的样品支撑台或手动XY工作台
口摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。 刻度线经过校准， 显示实际测量点大小。
口设计获得许可， 防护全面， 符合德国X射线条例第4章第3节
| 预期用途 | 用于材料分析和涂层厚度测量 |
| 元素范围 | 钛（22）至铀（92）* *同时最多24种元素 |
| 测量方向 | 从下往上测量 |
| 主过滤器 | 固定 |
| 测量点 |
根据测量距离和孔径，视频图像中会显示实际的测量光斑大小。 min测量点：XUL 210和XUL 220：约Ø0.51mm（20mils） |
| X射线探测器 | 比例接收器(PC) |
| 测量距离 | 0 … 25 mm (0 … 1 in) |
| 缩放系数 | Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
| 供电电源 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 操作温度 | 10 °C – 40 °C / 50 °F – 104 °F |
| 存储/运输温度 | 0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F |
| 空气湿度 | ≤ 95 %, 无冷凝 |
应用：
铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
印制电路板和柔性电路板上的镀层
接插件和连接器上的镀层
电镀槽液分析
