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FEI 扫描电子显微镜Apreo 材料科学应用
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Apreo 材料科学应用
功能丰富的高性能 SEM
Apreo 的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的平台，并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于透镜内背散射探测，这种探测提供材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的样品仓压力为 500 Pa，可以对要求高的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供的性能和多功能性。
体验 Apreo SEM 带来的优势
- 复合末级透镜可在样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
- 作用大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
- 无比灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
- 各种各样的电荷缓解策略，包括样品仓压力可达为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。
- 分析平台提供高电子束电流，而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系统。
- 样品处理和导航极其简单，具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
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更多详细资料可来电咨询，服务热线：400-600-6053！
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