Scios 材料科学应用

用于形态学、化学和晶体学分析的高通量三维表征

Scios™ DualBeam 可对金属、复合材料和涂层等各种材料提供出色的二维和三维性能。Scios 能够对包括磁性样品在内的各种类型的样品得到高分辨高对比度的图像Scios 能够同时得到样品的成分，形貌以及边缘衬度，从而分析材料性能。并且不需要准备，它就可以在特定位置，甚至是绝缘材料上，制作切片。创新功能让 FEI 的 Scios DualBeam 可以生成三维数据立方体，以确定金属中夹杂物的大小和分布，或分析裂纹尖端各个方向的应力和应变。此外，您可以使用 Scios 迅速可靠地制备 S/TEM、EBSD 或原子探针应用中的高质量样品。

检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时间还能形成鲜明的对比度，从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心反散射检测器能提高效率，使您可以根据信号的角分布选择信号，从而轻松分离材料和形态对比度，即使着陆能量为 20 eV 也是如此。

处理各种样品的出色二维和三维性能

FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。利用的《用户指南》和 DualBeam 常见应用的分步工作流程。

更多详细资料可来电咨询，服务热线:400-600-6053!