百特Bettersize3000plus激光图像粒度粒形分析仪
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一、产品简介
Bettersize3000plus激光图像粒度粒形分析仪是一种采用半导体泵浦532纳米波长的偏振激光器作为光源的智能化的激光粒度仪,采用单一光学全角度测量的光路系统,散射光探测角度无死角,具有头等的分辨率,是百特公司的专利技术。同时在激光散射法测量的基础上结合了动态颗粒图像测量系统,使粗颗粒端的测量精度更高,同时采用百特公司的专有技术可以对激光法数据和图像法数据进行融合,给出结合测试结果,而且图像法还可以给出粒形上的信息数据,激光法与图像法结合测量。该仪器还有一个显著的特点就是可以进行折射率测量,折射率是激光粒度仪测试中的一个非常重要的参数,正确与否对测量结果的准确性有至关重要的作用,那么百特公司在Bettersize3000plus仪器的基础上结合多年的研究成果,开发出具有创造性的折射率测量系统,使仪器的测量结果真实准确性有个可靠的保障。
激光法与图像法结合技术,折射率测量技术。还具有浓度测量、比表面积推算、比重推算等功能。其它方面具有自动测试、自动对中、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗等特殊功能。采用高性能的进口半导体泵浦激光器,寿命大于25000小时;采用进口的高精度透镜组,成像清晰,畸变很小,保证了微弱的、各种角度的散射光信号无一漏网。成像系统采用德国高速CCD与高像质远心镜头,使颗粒成像清晰,采用高速的颗粒识别软件,每分钟可以分析几万到几十万的颗粒数目。该仪器具有准确可靠、重复性好、操作简便、测试速度快等突出特点,是集激光技术、计算机技术、数字图像技术、光电子技术于一体的新一代高性能的粒度测试仪器,可以与国外粒度仪一决高下,特别适合企业、高校、研究院所等实验室选用。
二、良好的重复性
稳定有效的分散系统。
激光器、探测器、信号传输系统稳定可靠。
自动对中系统使仪器始终保持在理想状态。
采样速度达3500次/秒,大量数据有效减少少数异常数据对重复性的影响。
通过标准样品验证,结果与标称值一致。
采用百特发明的双镜头光学系统,大大提升了测量精度。
探测器数量96个,高性能软件,无论样品是单峰、双峰还是多峰都能准确自动测试。
Bettersize3000plus激光图像粒度粒形分析仪是一种采用半导体泵浦532纳米波长的偏振激光器作为光源的智能化的激光粒度仪,采用单一光学全角度测量的光路系统,散射光探测角度无死角,具有头等的分辨率,是百特公司的专利技术。同时在激光散射法测量的基础上结合了动态颗粒图像测量系统,使粗颗粒端的测量精度更高,同时采用百特公司的专有技术可以对激光法数据和图像法数据进行融合,给出结合测试结果,而且图像法还可以给出粒形上的信息数据,激光法与图像法结合测量。该仪器还有一个显著的特点就是可以进行折射率测量,折射率是激光粒度仪测试中的一个非常重要的参数,正确与否对测量结果的准确性有至关重要的作用,那么百特公司在Bettersize3000plus仪器的基础上结合多年的研究成果,开发出具有创造性的折射率测量系统,使仪器的测量结果真实准确性有个可靠的保障。
激光法与图像法结合技术,折射率测量技术。还具有浓度测量、比表面积推算、比重推算等功能。其它方面具有自动测试、自动对中、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗等特殊功能。采用高性能的进口半导体泵浦激光器,寿命大于25000小时;采用进口的高精度透镜组,成像清晰,畸变很小,保证了微弱的、各种角度的散射光信号无一漏网。成像系统采用德国高速CCD与高像质远心镜头,使颗粒成像清晰,采用高速的颗粒识别软件,每分钟可以分析几万到几十万的颗粒数目。该仪器具有准确可靠、重复性好、操作简便、测试速度快等突出特点,是集激光技术、计算机技术、数字图像技术、光电子技术于一体的新一代高性能的粒度测试仪器,可以与国外粒度仪一决高下,特别适合企业、高校、研究院所等实验室选用。
二、良好的重复性
稳定有效的分散系统。
激光器、探测器、信号传输系统稳定可靠。
自动对中系统使仪器始终保持在理想状态。
采样速度达3500次/秒,大量数据有效减少少数异常数据对重复性的影响。
三、良好的准确性
通过标准样品验证,结果与标称值一致。
采用百特发明的双镜头光学系统,大大提升了测量精度。
探测器数量96个,高性能软件,无论样品是单峰、双峰还是多峰都能准确自动测试。
完善的样品制备系统包括循环、超声波分散、搅拌、自动进水、自动排水和自动清洗。
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激光散射系统
测试范围 | 0.01-3500μm | 进样方式 | 自动循环分散进样系统 |
重复性误差 | ≤0.5%(国标样D50偏差) | 准确性误差 | ≤0.5%(国标样D50偏差) |
双峰分辨力 | ≥1.65(两标样标称值之比) | 测量原理 | 米氏散射理论 |
测量方式 | 全自动测量(SOP) | 测量速度 | ≤10秒 |
激光光源 | 偏振泵浦固体激光器(5mW/532nm) | 光路系统 | 斜入射双镜头 |
露点温度测量 | 有 | 探测角度 | 0.02-165o |
折射率测量范围 | 1.4-3.6 | 操作系统 | WinXP/Win7/Win8/Win10 |
接口方式 | USB2.0或3.0 | 光电探测器 | 96个 |
超声波功率 | 50W | 循环池容积 | 600ml |
循环流量 | 3000-8000ml/分钟 | 体积、重量、电压 | 820×610×290mm、48kg、AC220V、50/60Hz |
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显微图像系统
图像分析范围 | 2-3500μm | 进口高速CCD | 120帧/秒 |
远心成像系统 | 放大倍数20-100倍 | 图像识别速度 | 10000个颗粒/分钟 |
分析项目 | 粒度分布、max粒径、长径比、圆形度、径厚比等 |
- 各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。
- 各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。
- 其它粉体:河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳浊液等。