美国麦奇克 纳米粒度及zeta电位仪
现在位置：首页 > 产品中心 > 美国麦奇克 纳米粒度及zeta电位仪
- 产品简介
- 产品性能参数
- 适用范围
- 服务网点
测量原理：
粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率
分子量测量：水力直径或德拜曲线
光学系统：
3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路
软件系统：
Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。
外部环境：
电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
环境要求：温度，10-35°C
标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特点：
﹡采用新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
﹡“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。
﹡异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
﹡可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
﹡颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
﹡快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
﹡膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。
﹡无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果
﹡消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
技术参数：
重现性：误差≤1%
浓度范围：100ppb-40%w/v
检测角度：180°
分析时间：30-120秒
准确性：全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子
测量精度: 无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果
理论设计温度：0-90℃，可以进行程序升温或降温
兼容性：水相和有机相
