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日本 Horiba动态光散射粒径分布测试仪SZ100Zeta电位分析仪
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Horiba SZ100可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子（粒子直径、Zeta电位、分子量测定）完全解析纳米粒子的物质结构
主要特点：
1. 将解析纳米尺寸重要的三要素（粒子直径、Zeta电位、分子量测定）的测定囊括于一身。
2. 从PPM顺序的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原状态下取样调查、测定。
3. 微小容量电泳电池：为独自研发，可以测定取样调查仅100μL的Zeta电位。
4. 适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用
5. 取样调查后，只要按测定开始按钮即可，操作简单。
Horiba SZ100粒子直径测定
超宽动态测定有效范围：0.3nm~8000nm
通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。
在单一纳米粒子专用光学系统中，采用低角度90度光学系统。
广泛测定样品浓度范围
通过采用双重光学系统，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。
Horiba SZ100Zeta电位测定
通过安装标准的Horiba自主研发的微型样品池，可以测定仅100μL的样本。
Horiba纳米粒度仪SZ100广泛应用于以下领域：
·陶瓷粒子
·金属纳米粒子
·石炭
·制药
·病毒
·颜料、涂料
·化妆品
·聚合物
