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日本 Horiba动态光散射粒径分布测试仪SZ100Zeta电位分析仪

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Horiba SZ100可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子(粒子直径、Zeta电位、分子量测定)完全解析纳米粒子的物质结构

主要特点:

1.  将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta电位、分子量测定)的测定囊括于一身。

2.  从PPM顺序的低浓度到百分之几十的高浓度样品,都能够在保持原状态下取样调查、测定。

3.  微小容量电泳电池:为独自研发,可以测定取样调查仅100μL的Zeta电位。

4.  适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用

5.  取样调查后,只要按测定开始按钮即可,操作简单。

 

Horiba SZ100粒子直径测定

超宽动态测定有效范围:0.3nm~8000nm

通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化。

在单一纳米粒子专用光学系统中,采用低角度90度光学系统。

广泛测定样品浓度范围

通过采用双重光学系统,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。

Horiba SZ100Zeta电位测定

通过安装标准的Horiba自主研发的微型样品池,可以测定仅100μL的样本。

Horiba纳米粒度仪SZ100广泛应用于以下领域:

·陶瓷粒子

·金属纳米粒子

·石炭

·制药

·病毒

·颜料、涂料

·化妆品

·聚合物