安捷特--XRF镀层测厚仪AXIOM系列
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ACZET系列X射线荧光分析测厚仪能提供：
分析镀层厚度和元素成份同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,
ACZET系列X射线荧光分析测厚仪特点：
ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的样品舱。
ACZET系列镀层测厚仪的优势
l 操作简单，只需要很少的培训就可以操作
l 检测速度快，无损检测只需几秒钟
l 可测试单层及多层镀层的厚度
l 可以测试电镀液中金属离子含量
l 对测试样品完全无损
自动化批量检测：可选配XYZ全自动工作台
l 应用行业广泛：电子，珠宝，金属加工等等
操作软件
l µ-Master用于镀层厚度测量
l Element-Master 用于材料分析
l Report-Master 用于生成报告文件
l Data-Master 用于数据库管理
l %-Master 用于材料分析（珠宝）
l Liquid-Master 用于电镀液分析
可选配置
l 自动的多准直器系统
l 软件控制XYZ轴实现自动化批量检测
适用于：|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|
