MARSURF XC 2 MIT CD 120 轮廓测量站
现在位置：首页 > 产品中心 > MARSURF XC 2 MIT CD 120 轮廓测量站
- 产品简介
- 产品性能参数
- 适用范围
- 服务网点
精密轮廓测量入门之选
测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供安全而可靠的结果。
-
利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
-
密码保护用户访问权限，避免不当使用
-
以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
-
稳定、坚固的测头
-
平滑运行，稳定而准确的驱动装置
-
根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
-
高定位精度
- 专利测杆固定技术，防碰撞保护
可选：
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳，V 形块
设备工作台
软件选项：
DXF 导入选项
相切元素选项
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
- MarSurf XC 2 包含计算机、MidRange Standard、MarSurf XC 2 软件、Mahr 许可密钥
- TFT 显示器
- MarSurf CD 120 驱动装置
- MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
- 校准套件
- MCP 23 手动控制面板
- CT 120 XY 工作台包含旋转调整
|
技术参数： |
|
|
接触速度（Z 方向） |
0.1 至 1 mm/s |
|
测杆长度 |
175 mm, 350 mm |
|
测量速度（文本） |
0.2 mm/s 至 4 mm/s |
|
针尖半径 |
25 µm |
|
扫描长度末尾（X 方向） |
120 mm |
|
分辨率 |
Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆） |
|
扫描长度开始（X 方向） |
0.2 mm |
|
取样角 |
在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77° |
|
定位速度（文本） |
X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
|
导块偏差 |
< 1 µm（超过 120 mm） |
|
测量范围 mm |
（Z 方向）50 mm |
|
扫描长度（文本） |
0.2 mm 至 120 mm |
|
测量力 (N) |
1 mN 至 120 mN |
机器建造
轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
生产领域最需要的测量
部分自动流程中的轮廓测量
汽车业
转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
医疗
髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量，医用螺丝的轮廓测量，种植牙的轮廓测量
